C扫描检测应用范围

超声波C 扫描技术是将 超声检测与微机控制和微机进行 数据采集、存贮、处理、图像显示集合在一起的技术。超声波C 扫描系统使用计算机控制超声 换能器(探头) 位置在工件上 纵横交替搜查,把在探伤距离特定范围内(指工件内部) 的反射波强度作为 辉度变化并连续显示出来,可以绘制出工件内部缺陷 横截面图形。这个横截面是与超声波声束垂直的,即工件内部缺陷横截面,在计算机显示器上的纵横坐标,分别代表工作表面的纵横坐标。

常规超声C扫描成像检测技术

当今，对腐蚀超声检测的显示，正逐渐从“单点”的A型显示和“二维线性”的B型显示向“三维体性”的C型显示方式发展，缺陷显示更加真实完整，数据更加丰富。

超声C型扫描显示，简称C扫，即特定深度扫描模式，从显示方式看是二维平面显示，用平面上不同的颜色来反映波幅高度或不同的厚度信息。C扫的图像实际是由探头扫描路径的每一组B扫图像组合而成，因此C扫成像平面与B扫成像平面是互相垂直的。在C型扫描成像中，探头不但要沿x方向扫描，而且还要沿y方向扫描，即面扫描(二维扫描)，而不是线扫描(一维扫描)。为获得某一与声束轴线垂直的断面在z=z0的图像，扫描声束应聚焦于该平面；改变扫描声束聚焦的平面，即可获得物体不同深度的C扫截面图像。

超声C扫描检测设备

超声C扫描检测方式通常采用常规超声探头+双轴扫查器的方式，但是随着相控阵超声技术及计算机技术的快速崛起，诞生了以超声相控阵技术的C扫描检测技术，即超声相控阵多阵元探头+双轴扫查器的方式。相控阵超声C扫描系统具有更高的精度和缺陷检出率，更快的检测速度和更高的图像分辨率等优点，因此其具有更高的发展空间，必定是今后超声C扫描检测的主流。