“AFS”的原理

原子荧光光谱法(atomic flurescenc spectrometry，AFS)是一种基于测量原子蒸气吸收特定辐射被激发后去激发所发射出的特征谱线强度进行定量的元素痕量分析的发射光谱分析法，是在20世纪60年代中期提出并迅速发展起来的一种新型痕量光谱分析方法，是原子光谱法中的一个重要分支。原子荧光光谱法所用仪器与原子吸收光谱法相近。

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原子荧光光度计

氢化法原子荧光光谱仪也被称为原子荧光光度计，是拥有我国自主知识产权的光谱仪器，由于其检出限低、灵敏度高、抗干扰力强，在***检测方面占有重要位置。作为精密仪器，只有注重日常的***和维护才能更好地发挥检测作用。北京金索坤技术开发有限公司是一家只专注原子荧光光谱仪的研发以及生产的高新技术企业。公司生产的原子荧光产品是新一代原子荧光光谱仪的代表，所以了解SK系列氢化法原子荧光光谱仪的维护是十分必要的。

原子荧光光度计常见干扰

原子荧光光度计是利用KHB或NaHB作为检测还原剂，将待测溶液中的待测元素还原成原子蒸汽，并借助外力形成基态原子，在吸收

能量之后形成激发态原子，激发态原子在跃迁时将能量以荧光的形式散失，通过不同元素，荧光强度不同来判定待测液中的元素种类。其中KHB或NaHB的反应必须在酸性介质环境中进行，当环境酸度值降低时，空白对照组的荧光强度会偏高并波动幅度较大，在检测待测液中是否含有某种元素时，荧光强度有较大振幅，一般在1000—8000，因此导致原子荧光光度计在检测中结果差距较大，甚至由于荧光强度的较大振幅使得测量仪显示信号溢出。识别并排除介质干扰原子荧光光度计度的方法：通过观察试验检测现象，当出现原子荧光强度随着介质酸度值增加而增加，随着介质酸度值降低而下降的情况，就可以判定仪器故障是由介质因素影响的，可以通过更替的酸性介质来排除介质影响；再有，选择的原子荧光光度计酸性介质，以减小介质对荧光强度的影响；另外，在荧光强度检测的一系列过程中，都使用的酸性介质，从而保证荧光强度检测的性。

原子荧光光度计常见干扰因素与排除

还原剂的影响 

原子荧光还原剂一般采用硼 -或硼 -。还原剂配制浓度过高或存放时间过久也可导致荧光强度大幅度波动 ,但不会明显随介质浓度而变化。实验过程中应注意以下要点 :

(1)由于硼溶液的浓度越大越容易引起液相干扰, 所以要尽可能采用较低的硼浓度。

(2)由于硼的水溶液不稳定 ,原子荧光还原剂一般采用硼 -或硼 -。

还原剂配制浓度过高或存放时间过久也可导致荧光强度大幅度波动 ,但不会明显随介质浓度而变化。实验过程中应注意以下要点 :

(2)由于硼的水溶液不稳定