“AFS”的原理

原子荧光光谱法(atomic flurescenc spectrometry，AFS)是一种基于测量原子蒸气吸收特定辐射被激发后去激发所发射出的特征谱线强度进行定量的元素痕量分析的发射光谱分析法，是在20世纪60年代中期提出并迅速发展起来的一种新型痕量光谱分析方法，是原子光谱法中的一个重要分支。原子荧光光谱法所用仪器与原子吸收光谱法相近。

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原子光谱仪分析技术的应用有哪些？

1.原材料复验 为确保航空产品质量，必须对入厂原材料（包括金属和合金）和炉后样品进行全项或选项复验，检查原材料成分是否符合规定的技术条件的要求。

2.炉前分析 配合熔炼过程，快速测量炉中钢水或熔融合金的元素韩流昂是否符合设计要求。

3.故障分析 针对在生产、试制或使用过程中出现的问题，对材质进行分析鉴定。

4.工艺检查 对已投产的锻件、铸件进行定期分批量分析，以检查锻、铸工艺条件是否改变。

5.样机（件）材料鉴定 对样机或部分零件进行无损或少损的成分分析，以确定其材料牌号，为机械产品的设计、维修和产品改进提供参考。

原子荧光光度计

原子荧光光谱分析方法（AFS）是20世纪60年代中期提出并发展起来的新型光谱分析技术,是介于原子发射光谱法(ＡＥＳ)和原子吸收光谱法(ＡＡＳ)之间的光谱分析技术，兼有原子吸收和原子发射两种技术的优点,同时又克服了两种技术的不足。具有谱线简单、分析灵敏度高、干扰少、线性范围宽、可多元素同时分析等特点,同时该方法分析速度快、检测成本低，是一种优良的痕量分析技术。

原子荧光还原剂的干扰与排除

在原子荧光光度计使用中通常利用NaHB-NaOH溶液或是KHB KOH溶液。原子荧光光度计对还原剂的要求较高，还原剂配置浓度的

高低、用量的多少以、存放环境以及存放时间的长短都可能影响终荧光强度的检测，因此在检测过程中应当注意几点：首先，原子荧光还原剂的用量关系着试验检测的灵敏度，用量过少，还原剂能力较弱，不能进行完全的还原，检测灵敏度降低；还原剂用量过多，会伴随产生大量的氢气，进而产生液相干扰和稀释作用，终导致光度计检测灵敏度降低，所以要注意还原剂的用量。再有，还原剂的浓度较大会干扰检测度，因此要适当降低还原剂的浓度，然而还原剂通常在浓度较小的情况下更加不稳定，为了避免液相干扰，就要加入适量的保证的稳定性，值得注意的是，准确把握加入的的含量，因为过量的会降低介质的酸度值，进而影响光度计检测度，因此要注意的加入量。另外，考虑到和等试验检测***具有较强的腐蚀性，因此在原子荧光光度计检测中，要注意还原剂的现用现配。