“AFS”的诞生和发展

1987年，刘明钟等人成功研制了脉冲供电空心阴极灯，这种激发光源为HG -AFS仪在我国的普及推广创造了条件；在此基础上研制生产的XDY-2无色散HG-AFS仪以屏蔽式高温石英炉作原子化器，手动进样、双道同时检测、微机控制，堪称为我国AFS发展*具有里程碑意义的仪器。

1996年我国推出了款全自动AFS-230型HG—AFS仪，采用断续流动进样装置，实现了氢化物发生反应的自动化。随后，我国相继研制生产出AFS-610、AFS一230、SK一800、AFS一2202、AFS一830、AFS一9800、SK-锐析、AFS- 930、AFRoHS-400等高灵敏商品化原子荧光仪，使得我国HG AFS仪的研制和应用水平，一直处于地位。

原子荧光光度计常见干扰

原子荧光光度计是利用KHB或NaHB作为检测还原剂，将待测溶液中的待测元素还原成原子蒸汽，并借助外力形成基态原子，在吸收

能量之后形成激发态原子，激发态原子在跃迁时将能量以荧光的形式散失，通过不同元素，荧光强度不同来判定待测液中的元素种类。其中KHB或NaHB的反应必须在酸性介质环境中进行，当环境酸度值降低时，空白对照组的荧光强度会偏高并波动幅度较大，在检测待测液中是否含有某种元素时，荧光强度有较大振幅，一般在1000—8000，因此导致原子荧光光度计在检测中结果差距较大，甚至由于荧光强度的较大振幅使得测量仪显示信号溢出。识别并排除介质干扰原子荧光光度计度的方法：通过观察试验检测现象，当出现原子荧光强度随着介质酸度值增加而增加，随着介质酸度值降低而下降的情况，就可以判定仪器故障是由介质因素影响的，可以通过更替的酸性介质来排除介质影响；再有，选择的原子荧光光度计酸性介质，以减小介质对荧光强度的影响；另外，在荧光强度检测的一系列过程中，都使用的酸性介质，从而保证荧光强度检测的性。

原子荧光光度计

介质的影响

依据原子荧光光度计工作原理, 氢化物反应是在酸性介质中发生的 ,当酸的纯度较低时 ,空白值会偏高且极不稳定 。多数情况下某些介质只影响一种元素而不影响其它元素的检测 。故障表现为测定某种元素前, ***空白测试时, 经常出现荧光强度在1 000 ～ 8 000范围内大幅度波动的现象, 甚至导致超出仪器的测量范围而提示信号溢出。在排除仪器流路和容器污染以及实验用水因素后 ,配制不同浓度的酸溶液上机试验 ,如果荧光强度值随酸度降低而成比例减小 ,即可确定上述故障现象由介质所导致 。此故障在更换合格介质后仪器多能自动***正常 。由此建议 ,原子荧光仪器在整个实验过程使用的酸为优级纯 ,为达到满意的实验结果 ,应简化实验步骤。若实验方法允许,可将样品处理 、标准系列配制和载流所用介质保持一致,以便将介质影响降到。