键盘缺陷检测的发展历程

键盘缺陷检测，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。在如今的电子制造业中键盘缺陷检测如同其他工艺站位一样有着重要的作用，传统AOI由于2D成像原理上的一些缺陷，无法做到“既准又快”的检出所有不良点同时又能兼顾设备产能，但是如何改进设备的性能以满足各大电子厂对质量和产能的双重要求呢？各大厂家开始在检测方法上下功夫了，键盘缺陷检测就应运而生了。

键盘缺陷检测的原理

CCD键盘缺陷检测的运行是通过振动盘、传送带或机械手有序地将产品排列并输送到直线轨道的前端，通过传送带或振动盘运行，将产品带到CCD摄像头下进行视觉检测，并将采集到的图像传输到视觉软件运算中，分析好坏产品，东莞市精致自动化科技有限公司,多年从事视觉设备检测设备研发,提供视觉检测解决方案，如果您需要，可以随时联系我们。

ccd键盘缺陷检测怎么设置

CCD设备就如同相机。调试方法可参考说明书。一般而言我们能做的无外乎这几点：调节焦距（尝试来回旋动镜头，避免图像模糊；如果是自动聚焦镜头就免了），调节光强、光圈、快门——这几个是相关联的，看你想达到什么效果：假设产品离镜头很近，拍摄的目标区有的地方糊的而你不希望如此，就缩小光圈；如果不能在产品静止状态拍摄因而糊的，你就再缩短快门时间(比方说从1/60调到1/120......)；如果图像太暗或太亮，就调节照明强弱、方向；如果这3者有的受到条件限制，就通过另外的调节来补偿。