化学组分含量分析应多分析几个颗粒

可以用镊子夹住导电胶带直接去黏附粉末，然后再用敲打、振动的办法或者用洗耳球从侧面对着所粘贴在导电胶带上的粉末朝外吹，把那些黏结不牢或团聚和重叠的粉末颗粒振掉或吹掉，再把粘牢的粉末连同导电胶带粘贴到样品台上。

也可以将粗颗粒粉末用环氧树脂镶嵌、混合、调匀，并让它固化后再进行研磨、抛光、清洗、镀膜，然后放入台式扫描电镜中进行观察、分析。若要做化学组分含量的定量分析应多分析几个颗粒，再把所得的定量结果平均计算，这样才能接近于样品的真实含量。

扫描电镜及其组合分析功能

随着现代科技的发展，扫描电镜及其组合分析功能相继出现，如微热台和冷台系统，主要用于观察和分析材料在加热过程中微观结构的变化和冷冻；平台系统主要用于观察和分析受力过程中发生的微观结构变化。扫描电镜结合其他设备的新分析功能，在新材料、新工艺的探索和研究中发挥着重要作用。

由电子发出的电子束经过栅极静电聚焦后成为直径50微米的点光源，然后在加速电压作用下，经两三个透镜组成的电子光学系统，电子束被会聚成几十埃大小聚焦到样品表面。

扫描电子显微镜(SEM)——一种电子光学仪器

扫描电子显微镜（SEM）——一种电子光学仪器，它利用很细的电子束扫描被观察样品的表面，收集电子束与样品相互作用产生的一系列电子信息，并对图像进行变换和放大。它是研究三维表面结构的有用工具。在高真空镜筒中，电子产生的电子束通过电子会聚透镜聚焦成细束，然后逐点扫描轰击样品表面。产生一系列电子信息（二次电子、背反射电子、透射电子、吸收电子等），检测器接收各种电子信号，经电子放大器放大后输入到显像管控制的显像管。显像管网格。