载网支持膜的选择标准是什么?

载网支持膜的选择标准：

载网支持膜，俗称铜网，或者碳网。其主要分为三个部分：下层是具有一定目数的金属网，可以是铜网、镍网、金网等。金属网上面为有机层（方华膜），上面为一层碳膜。根据测试和样品需求不同，载网的选择也不尽相同。载网有：简单载网支持膜、碳支持膜、微栅网、纯碳支持膜，选择合适的载网，首先考虑样品的性质和溶剂的类别。如果是体系的纳米粒子，可以选择纯碳支持膜（根据经验，只要溶剂不是或者，普通的碳支持膜也可满足要求)。如果样品是分散于乙醇或者中的粉末样品，则选择普通碳支持膜即可。

扫描电镜的制样方法有哪些

扫描电镜如何制样？

1.块体样品。直接可以用导电胶粘在样品台上测试，若需拍块体或者薄膜截面，需明确截面制备方法，一般可以通过剪刀裁剪或者液氮脆断两种方式来制备样品。

2.液体样品。用移液取样品超声后的悬浊液，滴一滴于硅片、锡纸或铝箔上，自然风干、烘箱烘干或者红外灯烘干即可，烘干后将硅片、锡纸或铝箔用导电胶粘在样品台上测试。

3.粉末样品。方式一是直接用导电胶粘在样品台上测试；方式二是乙醇分散制样，取少量样品于离心管中，加入一定量无水乙醇或者水，室温超声五到十分钟，超声后采用液体的制样方式制样即可。

扫描电子显微镜(scanningelectronmicros

扫描电子显微镜（scanning electron microscope，简称扫描电镜/SEM）的基本组成是透射系统、电子系统、电子收集系统和观察记录系统，以及相关的电子系统。现在公认的扫描电镜的概念是由德国的 Knoll在1935年提出来的，1938年Von Ardenne在投射电镜上加了个扫描线圈做出了扫描透射显微镜（SEM）。

由于扫描电镜可以利用多种物理信号对样品进行综合分析，并具有直接观察较大样品、放大范围广、景深大的特点，当陶瓷材料处于不同的外部条件和化学环境时，扫描电子显微镜在其微观结构分析和研究方面也显示出很大的优势。