单颗粒检测反应样本的真实粒径分布情况

在粒度仪的实际应用中，往往很难得有单一粒径的样本，绝大多数样本的粒径分布比较广，这就需要极高的分辨率，需要单颗粒检测反应样本的真实粒径分布情况。PS标准微球在各大仪器厂商均作为校准物质，微球的测试能体现仪器的基本测试性能，对此，将100nm，150nm，200nm，250nm四种粒径的标准微球混合测试，纳米库尔特粒度仪测试结果见右图，可清晰的看到不同粒径的脉冲 峰，得到四种粒径的浓度、粒径分布图，反映样本颗粒真实的分布状态。

扫描电镜利用其放大倍数大且连续可调的特点

金属及其合金的性能是由微观***、化学成分和晶体结构来决定的，连续可调的放大倍数等特点使得扫描电镜在断口形貌，微区形貌及定性定量分析，失效分析等方面有着重要作用。光学显微镜可以用来观察常规***，整体上看到两种或几种相的分配比例，但是由于其放大倍数有限（一般大放大倍数2000倍），很多***中的片层结构、针状结构、第二相、共晶体等很难清楚的观测到。扫描电镜利用其放大倍数大且连续可调的特点，实现了宏观形貌与显微***同时观测的目的。

SEM是扫描电子显微镜的简称

SEM是扫描电子显微镜的简称。扫描电子显微镜是1965年发明的一种比较现代的细胞生物学研究工具，它主要利用二次电子信号成像来观察样品的表面形貌，即用很窄的电子束扫描样品，通过与样品之间的相互作用产生各种效应。 该作用产生各种影响，其中包括样品的二次电子发射。 二次电子可以产生样品表面的放大图像，该图像是在扫描样品时按时间顺序建立的，即逐点成像获得放大图像。用台式扫描电镜拍几千倍的图可根据样品信号强度选择光斑直径中或者细来拍照。

末级透镜上有扫描线圈的功能

在末级透镜上有扫描线圈，它的功能是使电子束在样品表面扫描。由于高能电子束与试样物质的相互作用，产生各种信号（二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等），这些信号被相应的接收，经放大器放大处理后经过运算电路处理，呈现在显示屏上。由于扫描线圈的电流与运算电路的相应偏转电流同步，因此试样表面任意点的发射信号与显示屏上的亮度一一对应。也就是说，电子束打到试样上一点时，在显示屏上就出现一个亮点。