扫描电子显微镜SEM参数
扫描电子显微镜SEM 基本参数
放大率:通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到
场深:扫描电子显微镜SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。
工作距离:工作距离指从物镜到样品高点的垂直距离。
如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。
如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。
通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间
粉末样品的制备应注意以下几点
粉末样品的制备
对于导电的粉末样品,应先将导电胶带黏结在样品座上,再均匀地把粉末样撒在上面,用洗耳球吹去未黏住的粉末,即可用电镜观察。对不导电或导电性能差的,要再镀上一层导电膜,方可用电镜观察。为了加快测试速度,一个样品座上可以同时制备多个样品,但在用洗耳球吹未黏住的粉末时,应注意不要样品之间相互污染。
对于粉末样品的制备应注意以下几点:
A、尽可能不要挤压样品,以保持其自然形貌状态。
B、特细且量少的样品,可以放于乙醇或者合适的溶剂中用超声波分散一下,再用毛细管滴加到样品台上的导电胶带上(也可用牙签点一滴到样品台上),晾干或强光下烘干即开。
C、粉末样品的厚度要均匀,表面要平整,且量
台式扫描电镜观察材料断口
台式扫描电镜的另一个重要特点是景深大,图像立体扫描电镜的透射电镜是光学显微镜的10倍由于图像景深较大,获得的扫描电子图像具有三维感强、形状三维等特点,比其他显微镜能提供更多的信息,对用户有很大的价值扫描电镜所表明断裂形态从深层和高景深的角度反映了材料断裂的性质,在教学科研和生产中具有的作用,是材料断裂原因分析、事故原因分析、工艺合理性确定等方面的有力工具。
台式扫描电镜观察大试样的原始表面
台式扫描电子显微镜可以直接观察直径为100毫米、高度为50毫米或更大尺寸的样品,不受样品形状的限制,也可以观察到粗糙的表面,避免了样品制备的麻烦并能真实观察样品本身不同物质成分的对比度。
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