可通过测量霍尔元件的电压变化得到待测微压差ΔP。图1霍尔式磁性液体微压差传感器结构示意图Fig．传感器改进部分的模型如图2所示。将霍尔元件固定在环形支架上，通过滑动支架可以改变霍尔元件测量位置，增加了传感器测量范围。环形支架的凹槽处放置霍尔元件，两个环形支架可以在滑轨上滑动，通过调节两个环形支架间距，可以改变传感器的测量量程。




对于CD-CHOL水相膜，3394cm－1是羟基(—OH)的伸缩振动峰，2950cm－1为—CH2的反对称伸缩振动峰，1735cm－1处为羰基的特征峰，1685cm－1处为CD中吡喃葡萄糖环的特征峰。此外，对于CD-CHOL/PAA-Azo复合膜的红外光谱，出现来自PAA-Azo分子的C—N伸缩振动，1642cm－1处的NN伸缩振动峰和1685cm－1处吡喃糖环的特征峰。




当硅砂粒度控制在150～230目时，熔制时间虽比100～150目的样品短，残留未熔物较少，但微气泡大幅增加，澄清时间大幅延长，玻璃均匀性也比100～150目的样品差。因此，对高应变点玻璃的熔制而言，100～150目的硅砂更有利于制备出高质量的高应变点玻璃基板。图7不同粒度硅砂配合料的气泡个澄清效果的影响-数控滚圆机滚弧机折弯机张家港倒角机液压滚圆机滚弧机折弯机倒角机