









计算机断层成像技术(Computed Tomography,CT)诞生于19世纪70年代,实现了三维成像并消除了物体重叠对检测带来的影响。该技术具有非接触、非***、无影像重叠、分辨率高等特点,被公认为20世纪影响人类发展的技术之一。X射线CT成像系统包括硬件和软件两部分。硬件部分主要包括系统的射线源、探测器以及精密机械;软件部分包括CT扫描数据获取、CT图像重建和CT图像应用三个层面,其是CT图像重建。
硬件部分主要包括系统的射线源、探测器以及精密机械;软件部分包括CT扫描数据获取、CT图像重建和CT图像应用三个层面,其是CT图像重建。
CT应用涉及***、工业、生物、石油、物探、材料、安检等众多领域。在发现X射线之后,科学家们就迅速发展了X射线成像。由于X射线具有波长短和穿透性强两个显著特点,是高分辨无损观测样品内部结构的方法,因此在工业和***上一直得到广泛的应用。
自动光学检测(AOI)检测方法。它是通过CCD 照相的方式获得器件或PCB的图像,然后经过计算机的处理和分析比较来判断缺陷和故障。其优点是检测速度快,编程时间较短,可以放到生产线中的不同位置,便于及时发现故障和缺陷,使生产、检测和二为一。根据对各种检测技术和设备的了解,x-ray检测技术与上述几种检测技术相比具有更多的优点。它可使我们的检测系统得到较高的提升。为我们提高“一次通过率”和争取EE的目标,提供一种有效检测手段。
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