大功率半导体器件为何有老化的问题?
任何产品都有设计使用寿命,同一种产品不同的使用环境和是否得到相应的维护,延长产品使用寿命和设备良好运行具有极为重要。功率元件由于经常有大电流往复的冲击,对半导体结构均具有一定的耗损性及***性,若其工作状况又经常在其安全工作区的边缘,更会加速元件的老化程度,故元件老化,就如人的老化一样是不可避免的问题。9A±3%±50mA 10A~50A±3%±1A 3、EA:10mJ~20J 10mJ~1000mJ±3%±1mJ 1J~20J±3%±10mJ 4、脉冲宽度:40—1000uS可设定 5、测试频率:单次 2。
3、系统基本参数
3.1 电 压 源:220VAC ±10% ,50Hz/60Hz 20A RMS;
3.2 加热功能:室温~150℃;
3.3 测试功能:可测试IGBT模块及FRD;
3.4 环境温度:25℃±15℃;
3.5 环境湿度:50% ±20% (相对湿度)
4、动态测试基本配置
4.1 集电级电压 Vcc: 50 ~ 1000V;
4.2 集电极电流 Ic: 50 ~ 1000A ***负载;
4.3 电流持续时间 It: 10 ~ 1000 us 单个脉冲或双脉冲的总时间; 4.4 脉 冲 模 式: 单脉冲和双脉冲;
4.5 单电流脉冲的设置: Vcc,Ic, 电感值(自动计算脉宽);
4.6 双电流脉冲的设置: Vcc, Ic, 电感值,间隙时间(10到50us)(脉宽自动计算);
(开启Qrr测试:第二个脉宽=间隙时间,10~50us);
4.7 设备寄生电感 Lint: < 65nH(***动态测试)。
5 包装、标志和运输 卖方负责整套设备的包装和运输,并负担由此产生的费用。出厂调试结束、出厂前预验收完成后,卖方将为每个柜子量身定做包装柜,保证包装坚固,能适应中国境内公路、铁路运输,并兼顾设备在现场保存时间的要求。包装与运输由专人负责,每个部分随机文件包括发货清单、出厂合格证、试验报告和主要器件说明书等。关断时间测试参数: 1、关断时间toff:5~2000ns±3%±3ns 2、关断延迟时间td(off):5~2000ns±3%±3ns 3、下降时间tf:5~2000ns±3%±3ns 4、关断能量:0。
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