封装用IGBT测试仪厂家诚信企业「华科智源」
作者:华科智源2021/12/25 11:04:12

测试参数: ICES 集电极-发射极漏电流 IGESF 正向栅极漏电流 IGESR 反向栅极漏电流 BVCES 集电极-发射极击穿电压 VGETH 栅极-发射极阈值电压 VCESAT 集电极-发射极饱和电压 ICON 通态电极电流 VGEON 通态栅极电压 VF 二极管正向导通压降 整个测试过程自动完成,电脑软件携带数据库管理查询功能,可生成测试曲线,方便操作使用。3半导体变流器变压器和电抗器 GB/T4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管。


3.3主要技术要求

3.3.1 动态参数测试单元技术要求

3.3.1.1 环境条件

1)海拔高度:海拔不超过1000m;

2)温度:储存环境温度 -20℃~60℃;

3)工作环境温度: -5℃~40℃;

4)湿度:20%RH 至 90%RH (无凝露,湿球温度计温度: 40℃以下);

5)震动:抗能力按7级设防,地面抗震动能力≤0.5g;

6)防护:无较大灰尘,腐蚀或性气体,导电粉尘等空气污染的损害;


安全工作区测试负载电感

?电感量 1mH 、10mH、50mH、100mH

?电流 通过选择不同档位电感,满足0~200A电流输出需求(10ms)

?瞬态电压 大于10kV

?负载电感 配备自动切换开关,可分别接通不同电感值,由计算机控制自动接通;自动切换开关参数性能需求与电感要求相匹配。

5)补充充电回路限流电感

限制充电回路中的di/dt。

?电感量 100μH

?电流能力 6000A (5ms)

?瞬时耐压 10kV

?工作温度室温~40℃

?工作湿度 <70%


静态及动态测试系统 技术规范 供货范围一览表 序号 名称 型号 单位 数量 1 半导体静态及动态测试系统 HUSTEC-2010 套 1 1范围 本技术规范提出的是限度的要求,并未对所有技术细节作出规定,也未充分引述有关标准和规范的条文,供货方应提供符合工业标准和本技术规范的产品。现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性。本技术规范所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时,应按较高标准执行。


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