检修用IGBT测试仪加工按需定制「华科智源」
作者:华科智源2021/11/13 17:02:13

如何检测元件有老化的现象?西门子PLC逻辑控制15)数据采集与处理单元用于数据采集及数据处理,主要技术参数要求如下:。 半导体元件有许多参数都很重要,有些参数如:放大倍率,触发参数,闩扣,保持参数,崩溃电压等,是提供给工程师在设计电路时的依据,在检测元件是否有老化的现象时,仅须测量导通参数及漏电流二项即可。将量测的数据与其出厂规格相比较,就可判定元件的好坏或退化的百分比。 何谓半导体元件的参数?对元件使用上有何重要性? 中大功率的元件仅在功能上的完好是不够的,因其必须承受规格上的电压与电流,在某条件下,承受度的数据便称为此元件的参数。若元件的工作条件超过其参数数据,元件可能会立刻烧毁或造成性的损坏。


3.3主要技术要求

3.3.1 动态参数测试单元技术要求

3.3.1.1 环境条件

1)海拔高度:海拔不超过1000m;

2)温度:储存环境温度 -20℃~60℃;

3)工作环境温度: -5℃~40℃;

4)湿度:20%RH 至 90%RH (无凝露,湿球温度计温度: 40℃以下);

5)震动:抗能力按7级设防,地面抗震动能力≤0.5g;

6)防护:无较大灰尘,腐蚀或性气体,导电粉尘等空气污染的损害;


关断时间测试参数: 1、关断时间toff:5~2000ns±3%±3ns 2、关断延迟时间td(off):5~2000ns±3%±3ns 3、下降时间tf:5~2000ns±3%±3ns 4、关断能量:0.2~1mJ±5%±0.01mJ 1~50mJ±5%±0.1mJ 50~100mJ±5%±1mJ 100~500mJ±5%±2mJ 5、关断耗散功率Pon:10W~250kW 关断时间测试条件: 1、集电极电压Vce:50~100V±3%±1V 100~500V±3%±5V 500V~1000V±3%±10V 2、集电极电流Ic:50~100A±3%±1A; 100~500A±3%±2A; 500~1000A±3%±5A;


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