镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。


镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。


采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。

从来不是***乐土

蒙古国从来都不是***的乐土，很诱人的时候，也是风险很高的时候。

十年间，广泛兴起的开矿潮之下，首先折戟的，是那些对矿产开发一无所知的中国人。他们本就不熟悉蒙古国***，也不了解蒙古国情，兴冲冲地来到蒙古国，没有完备的手续，盲目地***开矿，结果一旦遭遇查处或欺诈，就落得血本无归。

另一种情况是，对矿产资源把握不准。这些矿产，虽然有前苏联留下的勘探资料，实际情况并非如此，需要重新做细致的勘探工作。很多人仅凭原始资料就买下了证，结果却没有挖到矿产，或者只挖到很少的矿产。此外，矿产开发，必须考虑运输问题，对于中国***者来说，在蒙古国交通短期内难以改善的情况下，像煤矿和铁矿石等大宗矿产品，运输是个核心问题，只有靠近中蒙边界，才有经济效益，具有***价值。