同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。


1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。

XRF在矿石领域的应用

随着我国社会经济的发展，我国矿业目前正处于转型期，朝着生态环保、高质量发展、资源节约、技术是矿业的发展方向，这对矿产采选、冶炼、深加工等环节中对矿产品质检测有了更严格的要求。

X射线荧光分析技术是一种快速、无损、度、可多元素同时测定的物质测量方法。适合于矿产主量、次量及微量成分分析具有简便、快速的优点，这些特点使得该分析技术在许多领域都更加便携且更具优势。

TrueX 矿石分析仪能够在很少或没有样本准备的情况下，在活动的各个阶段，包含从基层勘探开发，到矿石品位控制，甚至环境调查等情况下，提供快速、准确的元素分析结果，与传统的实验室方法相比，样品吞吐量高，样品密度增加，省时省心又省力。