半导体芯片广泛应用于各个领域、各类电子产品,已经成为经济发展、***信息安全的命脉,深刻影响着现代人类的生活。在半导体芯片封装制造过程中,不可避免地在芯片表面产生各类缺陷,直接影响到芯片的运行效能及寿命。传统人工目视检测法已经难以适应半导体芯片封装制造的高速、高精度的检测需求。利用机器视觉技术对芯片表面缺陷进行检测,具有无接触无损伤、检测精度高、速度快、稳定性高等优点。尽管目前基于机器视觉的芯片缺陷检测技术在芯片打印字符、引脚外观尺寸位置等方面的研究已取得很好的进展,但对于芯片表面的外观缺陷检测与分类研究尚处于起步阶段。

目的为实现饮料易拉罐拉环背部激光打码的自动化,提出一种基于遗传算法的易拉罐罐盖图像识别新方法。方法首先搭建一套易拉罐盖激光自动打码机,基于所搭建的实验系统,利用CCD相机实时罐盖图像。对所到的图像进行中值滤波和灰度增强处理,在此基础上,研究基于遗传算法的罐盖图像阈值分割新方法,分析、确定算法的关键参数(个体数目、交叉率、变异率等),由此得到罐盖的二值化图像,并对算法处理结果进行误差分析。结果遗传算法经过约15代的迭代计算,能够收敛,获取到的图像阈值,整个算法的运行时间约30 ms,终的图像精度约为7.9 pixel。

易拉罐空罐视觉检测系统，可在保证生产线不停机持续运行的情况下，高速检测产品外观质量缺陷，及时发现并剔除不良品，而且可将检测图像实时显示，不良品图像自动保存，还可进行数据统计。该系列检测设备目前已在啤酒厂、饮料厂、易拉罐厂的灌装生产线上得到成功应用，检测效果良好。若客户还有特殊要求，也可进行设备的非标定制