全自动光学检测系统量大从优
作者:亿昇精工2020/7/20 8:30:52






AOI软件中有一个综合性的验证功能,它能减少检查的误报,保证检测程序无缺陷。它可以检查储存起来的有缺陷的样品,例如,修理站存放的样品,以及印刷了焊膏的空白印刷电路板。在优化阶段,在这方面花时间的原因是为了不让任何缺陷溜过去。这是一个典型地放置检查机器的位置,因为这里可发现来自锡膏印刷以及机器贴放的大多数缺陷。所有已知的缺陷都必须检查,同时要把允许出现的误报数量做到。在针对减少误报而对任何程序进行调整时,要检查一下,看看以前检查出来的真正缺陷,是否得到维修站的证实。通过综合的核实,保证检查程序的质量,用于专门的制造和核查,同时对误报进行。




AOI产品广泛应用于智能终端、可穿戴设备、电信网络、航空航天、汽车电子等各个领域,为客户提供高检出、低误报、简单易用、功能强大的视觉检查系统。

AOI 都采用了单一镜头。光学检测基本优化每块PCB可以采用光学或者X-ray技术并运用适当的运算法则来进行检查。其中,Omron 镜头摄像采用了 CHS ( Color Highlight System ) 专利技术; MVP 的公司 AOI 采用的是高灵敏度和性能的镜头; 安捷伦 SJ50 采用 S*** 技术的单一高解析度镜头; 而 Teradyne 的 AOI 通常有 5 个摄像头, 四个倾斜的和一个垂直的, 由于其 AOI 在同一位置扫描5 次, 因此极大的提高了测试的覆盖率; CyberOptics 的AOI 采用一组或两组镜头, 可以多达 9 个到 18 个。




AOI随着行业技术的快速提升以及劳动力成本的不断提高,自动化、智能化在电子生产领域起着至关重要的作用。基于对市场和客户的深入了解,成功推出了PCBA板级组装领域及半导体芯片级封装领域的自动光学检查机(AOI)。

AOI检查程序必须而且能够处理这些不同的变化所带来 的问题。但是,其中的一些变化需要花费时间进行处理, 因为我们不能预先知道是否有一种新的元器件被使用,或 是存在一个错误的元器件布局。这类方法算法简单,容易实现,但是它不容易检测线宽、线距违例等瑕疵。同时,面对质量方面的困 难,大量允许的可能出现的情况也需要一个一致的,确实 可行的说明。




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