越秀区华为数字芯片工程师职位说明书常用解决方案 传感ic电子
作者:瑞泰威科技2020/8/22 6:28:54






?数字IC是什么?

数字IC就是传递、加工、处理数字信号的IC,是近年来应用广、发展快的IC品种,可分为通用数字IC和专用数字IC。

模拟IC则是处理连续性的光、声音、速度、温度等自然模拟信号的IC,模拟IC按应用来分可分为标准型模拟IC和特殊应用型模拟IC。如果按技术来分的话,模拟IC可分为只处理模拟信号的线性IC和同时处理模拟与数字信号的混合IC。

标准型模拟IC包括放大器,电压调节与参考对比,信号界面,数据转换,比较器等产品;特殊应用型模拟IC主要应用在通信、汽车、电脑周边和消费类电子等四个领域。





简单总结一下二者的区别:数字电路IC就是处理数字信号的器件,比如CPU、逻辑电路等;而模拟电路IC是处理和提供模拟信号的器件,比如运算放大器、线性稳压器、基准电压源等,它们都属于模拟IC。模拟IC处理的信号都具有连续性,可以转换为正弦波研究,而数字IC处理的是非连续性信号,都是脉冲方波。主要包括:基本的RTL编程和,前端设计还可以包括IC系统设计、验证(verification)、综合、STA、逻辑等值验证(equivalencecheck)。

不同数字器件有不同的制程, 所以需要不同的供电电压, 因此更需要电源管理这一模拟技术,随着数字技术的发展, 模拟技术分布于数字技术周边, 与数字技术密不可分。


I老化原因?C

为什么老化跟时间有关?

为什么电路速度会随时间原来越慢呢?因为断键是随机发生,需要时间积累。另外,前面提到的断裂的Si-H键是可以自己***的,所以基于断键的老化效应都有***模式。对于NBTI效应来说,加反向电压就会进***模式;对于HCI效应来说,停止使用就进入***模式。但是这两种方式都不可能长时间发生,所以总的来说,芯片是会逐渐老化的。Hercules通过提供快的运行时间和高速有效的纠错(debugging)来缩短IC设计的周期。

为什么老化跟温度有关?

为什么电路速度跟温度也有影响呢?温度表示宏观物体微观粒子的平均动能。温度越高,电子运动越剧烈,Si?HSi?H键断键几率就大。




为什么加压会加速老化?

为什么加压有影响呢?同样的晶体管,供电电压越高偏移电压越高,偏移电压越高氢原子游离越快,等于压制了自发的***效应,自然老化就快了。

深圳瑞泰威科技有限公司是国内IC电子元器件的代理销售企业,***从事各类驱动IC、存储IC、传感器IC、触摸IC销售,品类齐全,具备上百个型号。



数字系统实时验证

在利用MP3C硬件平台的基础上搭建验证平台来实现对数字系统的验证,根据该系统的特点,完成了软硬件验证平台的构建和软件的配置。该验证系统主要是由APTIX MP3C系统、Spartan-IIE FPGA和相应的EDA软件等组成。 主要对验证的整体方案以及系统各个模块的功能和实现进行了深入的分析。需求层面:模拟类产品下游汽车、工业用途要求以可靠性、安全行为主,偏好性能成熟稳定类产品的同时资格认可相对较为严格,一般不低于一年半。介绍了IC设计的流程和IC验证的重要性;并对MP3C的FPCB和FPIC等模块以及Spartan-IIE开发板的FPGA、I/O和接口等模块的性能和使用方法进行了详细说明。




然后提出了以MP3C为核心的快速数字系统验证的硬件平台实现方法,其中激励产生和数据采集观察是通过在一块评估板中来实现;在EXPLORER软件中完成整个系统的搭建、FPGA的布局布线和FPCB的编译。并且根据这一方法实现了对复杂数字系统FFT进行验证,后得出了正确的结果,证明这一方法是切实有效的。根据设计的功能需求和算法分析的结果,设计芯片的架构,并对不同的方案进行比较。此方法能缩短IC开发周期,提高IC验证的效率,对将来IC发展来说很具有实际意义。


过程控制计算机软件包

发展强有力的程序测试系统,是提高程序可靠性的有效手段。但当前由于国内软件包的问世,在测试范围、测试要求和测试方法等方面,都提出了新的要求,原有的一般程序测试工具已不能***地、完整地完成测试任务。因此,就提出了设计新的测试系统的要求。LVS主要是将版图和电路网表进行比较,来保证流片出来的版图电路和实际需要的电路一致。本文主要是根据软件包测试的新要求,提出了设计新的测试系统的一些准则。在此基础上,进一步阐明如何根据这些准则,来组成一个测试系统;并以实例来说明这种系统的使用对加速程序测试和提高其可靠性是有效的;同时,使用也很方便。



深圳瑞泰威科技有限公司是国内IC电子元器件的代理销售企业,***从事各类驱动IC、存储IC、传感器IC、触摸IC销售,品类齐全,具备上百个型号。与国内外的东芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶准等均稳定合作,保证产品的品质和稳定供货。测试条件:在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试失效机制:材料或工艺的缺陷,包括诸如氧化层缺陷,金属刻镀,离子玷污等由于生产造成的失效。自公司成立以来,飞速发展,产品已涵盖了工控类IC、光通信类IC、无线通信IC、消费类IC等行业。


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