在开展数字ic电路设计设计过程中,无论是ASIC﹨FPGA,系统软件数字时钟的可信性,车载数字,十分重要。设计方案欠佳的数字时钟在限的溫度、工作电压或生产制造加工工艺的误差状况下将造成 错误的行为。而且一般和数字时钟有关的难题,在调节全过程中,难度系数很大、精准***较难、开销非常大。
数字ic时钟种类
一般数字时钟可分成以下四种种类:全局性数字时钟、自动门数字时钟、多级别逻辑性数字时钟和起伏式数字时钟。可是在具体工作上,车载数字码表,一个设计方案里边,通常全是多时钟系统,即包含所述四种数字时钟种类的随意组成。
1、 需求分析。分析用户或市场的需求,并将其翻译成对芯片产品的技术需求。
2、 算法设计。设计和优化芯片中所使用的算法。这一阶段一般使用语言(如C﹨C ),利用算法级建模和工具(如Matlab,SPW)进行浮点和定点的,进而对算法进行评估和优化。
3、 架构设计。根据设计的功能需求和算法分析的结果,设计芯片的架构,并对不同的方案进行比较。选择性能价格方案。这一阶段可以使用SystemC语言对芯片价格进行建模和分析。
4、 RTL设计。使用HDL语言完成对设计实体的RTL级描述。这一阶段使用VHDL或Verilog HDL语言的输入工具编写代码。
1、 需求分析。分析用户或市场的需求,并将其翻译成对芯片产品的技术需求。
2、 算法设计。设计和优化
随着数字集成电路性能的不断提高,数字集成电路测试系统也相应得到了迅速发展。主要表现在以下几方面: 测试通道数增加数字电路集成度的不断提高和专用集成电路的出现,器件的引脚数不断增加,使得数字测试系统的测试通道数相应不断增加。由测试中、小规模集成电路的24通道测试系统,测试大规模集成电路的48通道、64通道测试系统发展到测试超大规模集成电路的128通道、256通道甚至更多通道数的测试系统。
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