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电镀层的厚度及其均匀性是镀层质量的重要标志，它在很大程度上影响产品的可靠性和使用寿命。电镀层的厚度测量方法分***性测量和非***性测量两大类。属于***性测量的方法有计时液流法，点滴测厚法，库仑法，金相法等，属于非***性的测量方法有磁性法，涡流法，β射线反向散射法，X-ray法，扫描电镜法等。

1. 库仑法

库仑法测厚又称电量法或阳极溶解法。它是用适当的电解液阳极溶解限定面积的覆盖层，电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上的完全溶解，通过所消耗的电量计算出覆盖层的厚度。

本方法适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

测试设备：电解测厚仪

参考标准：GB/T 4955, ISO 2177, ASTM ***4

2. 金相法

金相法是通过用金相显微镜检查被测零件的断面来测量金属镀层及氧化物覆盖层的厚度，具有精度高、重现性好等特点。一般用于对镀层厚度有要求的产品测厚或校验和仲裁其他测厚方法。

测试设备：金相显微镜

参考标准：GB/T 6462, ISO 1463, ASTM B487

 

3. X-ray法

X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

测试设备：X射线荧光测厚仪

涂镀层表面分析是指对含有涂层或镀层的产品进行化学成分分析以及物理性能的测试。所涉及的对象有电子电器、汽车、金属配件、刀具等。

金属镀层厚度采取的测试方法有：

1、光学显微镜法

2、库仑法

3、X射线荧光法（XRF）

 

其他的金属镀层测试有：

1、镀锌、镀铝锌量测试

2、镀铝量测试

3、磷化物转化膜重量测试

4、铝和铝合金阳极氧化膜厚度（重量法）

5、铝和铝合金阳极氧化膜封孔质量

6、剪切试验

7、杯突试验

 

镀层厚度的测试标准：

1、 光学显微镜法包括：1.GB/T 6462-2005

2.ASTM B487-07

3.ISO 1463-2003

4.EN ISO 1463-2004

5.JIS H8501-1999

 

2. 库仑法检测标准包括：1.ASTM ***4-07

2.GB/T 4955-2005

3.ISO 2177-2003

4.DIN EN ISO2177-2004

5.JIS H8501-1999

 

测试项目有：

 

涂镀层表面成分及结构分析

 

镀层金含量，银含量及所有元素分析

 

涂镀层表面污点分析

 

涂镀层膜基结合力

 

摩擦磨损性能测定