bowman半导体膜厚测试仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。
电制冷固态探测器确保***的信/躁比，从而降低检测下限。
探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。***元素检测结果可***到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。
您可以针对您的应用选择***合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
bowman半导体膜厚测试仪的产品特点：可检测元素范围：AL13 – U92.可同时测定5层/15种元素/共存元素校正.即放即测！通过自动***功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！以***佳的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。无标样测量！将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。通过广域观察系统更方便选择测量位置！bowman半导体膜厚测试仪通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（***大250×200mm）中方便地指定测量位置
今天，在科技飞速发展的时代，对品质的要求也越来越高，博曼（bowman）可以达到您的要求，保证并提高你的产品品质。博曼（bowman）将与您携手共进。
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