美国Calmetrics标准片已通过ISO/IEC 1702
作者:2013/3/6 3:02:55

美国Calmetrics标准片已通过ISO/IEC 17025认证

美国Calmetrics标准片,是各大国际品牌X射线测厚仪标准片的供应商,2013年已通过ISO/IEC 17025认证,因为他们的测量系统可以符合17025 的认证,可追溯到NIST.

通用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray(X射线测厚仪)、 β-ray(β射线测厚仪)、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸.

测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品牌Fischer、Oxford(CMI)、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等,国产天瑞,纳优等)

  1. 薄膜片,单层测量品种:镍(Ni);铬(Cr);铜(Cu);锌(Zn);Cd(4);锡(Sn);银(Ag);金(Au);钯(Pd)等,其它镀层可定制.
  2. 镀层标准片:双镀层:Au/Ni/xx, 三镀层:Au/Pd/Ni/xx等.
  3. 合金标准片:合金镀层测量:Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni 、Ni-P 等.
  4. 测量厚度范围:0.01~300μm.(特别厚度可订做).
  5. 我们还有ROHS标准片,标准物件.
  6. 涂层测厚仪塑料标准片等.

商户名称:深圳市安达仪器仪表有限公司

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