名词解释：什么是温度冲击？

    如果一个器件、元件或将用于制造器件的材料重复地受到温度急剧变化（这种影响可以通过许多不同的方式获得，例如重复地把一个器件从温度存在很大差异的设备来回放入和取出，或在冷热的环境下断续地操作器件），它们总是在工作特性方面发生变化或导致物理失效。温度冲击试验箱是当元器件受到急剧温度变化时，通过控制这种变化来检测元器件及材料性能的设备。这种设备主要用于电子元件的质量评估、试验及相关研究，例如用于半导体生产线的大量筛选。

    通常把MIL或类似的标准作为温度冲击试验的依据。

    一个典型的试验曲线包括下面的部分。如图：

    上述试验曲线由在温度85度暴露15分钟，在-55度暴露15分钟的一个循环组成。温度冲击试验样品连续承受10次上述循环。

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