直读光谱仪的校准描迹是对光谱仪的光学系统进行的校准。这是校准的首要前提。

在此条件下可进行如下校准：标准化即再校准工作曲线，然后可用到的校准方法有：(1)、修改持久工作曲线法（修改标准化参数）；(2)、控样法；(3)、类型标准化法。

透镜污染透镜污染引发的光强值下降。透镜安装在光谱仪的分光室和火花室之间，起隔离分光室和火花室及汇聚谱线的作用。激发一定数量的试样以后，火花室内激发产生的灰烬等污染物及分光室内真空泵长时间运转蒸腾产生的油污分子会污染透镜的两个表面,降低透镜的透光性,引发光强值下降。因此，每隔规定的时间或分析了一定数量的试样后，要将透镜取下,浸泡在无水乙醇或其他清洗液中数十分钟再用干净的绸布擦拭干净后装上。 次数用完API KEY 超过次数限制

控制样品的使用①、分析炉中样品应尽量采用同钢种，接近含量的控制标准样品。②、一个控制样品很难满足多元素分析的要求，尽量做到分析样品的含量与控制标钢的成分接近。③、对特殊情况，个别元素接近边缘规格或超过标准规定时，应选择适当含量的标钢去进行控制。④、应随时联系电炉，取好光谱内控制标钢，炉中快速分析，应尽量采取浇注的控制标钢为好。⑤、对成品试样，要注意样品的状态(指淬火，退火状态)选择适当的控制标钢。 次数用完API KEY 超过次数限制

德国斯派克分析仪器公司SPECTRO全新研发的垂直同步双观测（DSOI）技术为提升ICP-OES的灵敏度提供了一种全新的解决方案。采用该技术解决了等离子体观测的核心问题，灵敏度是传统垂直观测等离子体仪器的数倍，性能价格比优异。

SPECTRO创新的垂直同步双观测（DSOI）方式，使用两个光学接口捕获来自垂直等离子体的发射光，使得微弱信号的检测能力大幅提升，同时又允许高浓度、重基体进样。进一步降低了记忆效应和污染风险。DSOI技术将传统垂直观测系统的灵敏度提高了数倍，避免了垂直双观测结构的复杂缺点和降低了用户使用成本。 次数用完API KEY 超过次数限制