对于纳米铜粉成分的分析方法的说明——原子吸收光谱AAS

根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量。适合对纳米材料中痕量金属杂质进行定量测定，检测限低。测量准确度很高。选则性好，不需要进行分离检测。分析元素范围广。难熔性元素，稀土元素和非金属元素，不能同时进行多元素分析。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎致电铜基粉体进行咨询。

纳米铜粉成分的分析方法——电感耦合等离子体原子发射光谱ICP

ICP是利用电感耦合等离子体作为激发源，根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法。可进行多元素同时分析。很低的检测限。稳定性很好，精密度很高，定量分析效果好。对非金属元素的检测灵敏度低。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎致电铜基粉体进行咨询，我们将会竭诚为您解答与服务。

纳米铜粉成分的分析方法——X射线光电子能谱技术XPS

XPS是一种表面分析方法， 使用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来，被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量和数量，从而获得待测物组成。主要测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。元素的定性分析和定量分析。固体表面分析。在光电子来自表面10nm以内，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不***样品的特点。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎来电咨询。

纳米铜粉粉体行业的相关术语说明——表面效应

表面原子周围缺少相邻的原子，有许多悬空键，具有不饱和性质，易与其它原子相结合而稳定下来，故具有很大的化学活性，晶体微粒化伴有这种活性表面原子的增多，其表面能大大增加。这种表面原子的活性不但引起纳米粒子表面原子输运和构型变化，同时也引起表面电子自旋构象和电子能谱的变化。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎来电咨询。