对于纳米粉成分的分析方法的讲解

表征与测试技术是科学鉴别纳米材料、认识其多样化结构、评价其特殊性能的根本途径。纳米材料的表征主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性如形貌、尺寸、粒径、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸光特性等。

纳米铜粉粉体的成分表征通常有以下几种方法：

原子吸收光谱AAS；电感耦合等离子体原子发射光谱ICP；电感耦合等离子体质谱；X-射线荧光光谱XFS；电子探针分析EPMA；X射线光电子能谱技术XPS。

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纳米铜粉材料的常用检测方法的介绍

扫描电子显微镜 SEM(Scanning Electron Microscope)：

SEM用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，即与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并被闪烁器转变为光信号，经光电倍增管和放大器转变为电信号控制荧光屏上电子束强度，得到与电子束同步的立体扫描图像。SEM反映的是样品表面结构。

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透射电子显微镜TEM(Tran***ission Electron Microscope)：

组成：电子光学系统、电源和控制系统和真空系统组成。

电镜对真空要求较高，需机械泵和油扩散泵两级串联才能得到保证。TEM可以获得高倍放大倍数的电子图像，也可以得到电子衍射花样，常用于研究纳米材料的结晶情况，观察纳米粒子形貌、分散情况及测量评估其粒径。TEM常用于纳米复合材料微观结构表征。

你知道纳米铜粉材料的小尺寸效应奇异特性吗

特殊的热学性质：

固态物质在其形态为大尺寸时，其熔点是固定的，超细微化后却发现其熔点将显著降低，当颗粒小于10纳米量级时尤为显著。例如，金的常规熔点为1064C，当颗粒尺寸减小到10纳米尺寸时，则降低27℃，2纳米尺寸时的熔点仅为327C左右；银的常规熔点为670C，而超微银颗粒的熔点可低于100℃。因此，超细银粉制成的导电浆料可以进行低温烧结，此时元件的基片不必采用耐高温的陶瓷材料，甚至可用塑料。采用超细银粉浆料，可使膜厚均匀，覆盖面积大，既省料又具高质量。日本川崎制铁公司采用0．1～1微米的铜、镍超微颗粒制成导电浆料可代替钯与银等***。超微颗粒熔点下降的性质对粉末冶金工业具有一定的吸引力。例如，在钨颗粒中附加0.1％～0.5％重量比的超微镍颗粒后，可使烧结温度从3000℃降低到1200～1300℃，以致可在较低的温度下烧制成大功率半导体管的基片。