直读光谱仪使用中高低标的作用及如何选择高低标 在光谱分析中，为直接利用原始工作曲线，就需要定期用再校准样品对原分析曲线进行重新校准。当采用两点进行再校准时，所用两块再校准样品元素含量应有足够大的差异，并确保在元素分析范围的和低端。事实上低端再校准样经常就是采用“纯”基体样品，表示实际上只含有这种合金基体，其它元素成分含量应为零、痕量或很少，如校准铁基曲线时就用高纯铁样品作低点。从理论上讲，这样的两个样品足以使仪器再标准化。然而在实际工作中，为了保证仪器精度，一般不可能只用两块再校准样品就能全部涵盖所有待测元素的和低端，因此往往需要更多数量的样品用于再校准。另一方面，再校准程序能够用于一种以上的合金，原则上可用于一组合金，这时采用多点再校准就更为便捷、有效。
电弧红外碳硫分析仪测定方式该仪器能够保证准确的钢铁、合金、有色金属、水泥、矿石、催化剂及其它材料中碳、硫两元素的质量分数的测定结果，那么，CS-8620型电弧红外碳硫分析仪是如何测定的呢？
一、采用低噪声、高灵敏度、高稳定性的热释电红外探测器。
二、新型铂金红外线光源，发热持续、光谱特性。
三、整机模块化设计，电子线路高度集成，提高了仪器可靠性。
四、工业级一体化线性模块电源，输出稳定，无故障。
五、红外检测部分与燃烧炉采用光纤连接，配合多级隐蔽式隔离电路，避免了电弧干扰。
六、双过滤装置，减少粉尘对分析结果的影响。
在光谱仪进行分析工作中，充分发挥了计算机的数据处理能力来达到分析测试目的。而光谱仪分析中具有的一大难题：光谱干扰及背景校正，在做样品的检测中，PS等元素由于背景及谱线干扰严重。
光谱干扰是指:在做低含量或者痕量元素做定量分析时由于谱线弱，某些高含量元素或与分析元素波长相差很小的一些元素在此分析通道内产生辐射，手持式光谱仪原理，这样在同一通道内干扰元素就会影响本通道的分析元素。
背景干扰是指分析样品中多原子状态物质对光源辐射所产生的散射，是光谱本底在本通道元素光强值上的附加。
在光谱上，对于分析线，手持式光谱仪价格，因为样品中成分很复杂元素谱线之间可能互相重要了解该元素的灵敏线可能被干扰的情况，从谱线表中查出所有可能干扰的元素，在这些元素中，首先去掉那些在工作的光源条下 根本不可能被激发的元素，或者由于样品的特点不可能存在于样品中的元素。
对其余可能干扰的元素，应逐个检查它们的灵敏线如果某元素的灵敏线没有在光谱中出现，手持式光谱仪，则应认为样品中没有这个元素干扰，如果确有其灵敏线在光谱中出现，只能说分析元素谱上可能有该元素的谱线叠加在上面，在这种情况下，对于要检定的元素，还不能作肯定的判断。
另外，在遇到谱线干扰时，手持式光谱仪，有时利用样品中元素的挥发性不同，也可以排除元素之间的谱线重叠干扰，当易挥发元素和难挥发元素的谱线互相重叠或干扰时，可采用分段***。
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