ATE是Automatic Test Equipment的缩写，根据客户的测试要求、图纸及参考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStandamp;LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。

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? 开放式的硬件平台，可根据客户需求增减各种测试设备 (含GPIB,RS-232,USB等接口的设备)

? ate电源测试系统支持同时测多颗单组/多颗多组输出电源，大幅提升了产线产能

? 开放式的软件平台，ate电源测试系统可根据客户测试要求扩充各种新测试项目和功能

? ate电源测试系统支持同时多路条形码预扫描功能，并且支持边测试边扫条形码功能，提升整体测试速度

? ate电源测试系统支持同时测多颗单组/多颗多组输出电源，大幅提升产线产能

(LED电源/适配器/充电器测试速度比使用量较大的6000系列电源自动系统，提高一倍以上)

? 测试时进行并行的条形码扫描(Bar Code Reader)，极大提高测试速度

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　ATE自动化测试系统发展线路　　阶段 规划：1994～1997.9；

　　规划ATE开放体系结构，实现仪器可互换、提高仪器选择的灵活性

　　第二阶段 规划：1997～1999.3；

　　规划ATS开放体系结构，实现TPS可移植与互操作

　　第三阶段 规划：1996～2000；

　　增强UUT全寿命的支持，建立信息共享体系结构，实现ATS外部接口标准化，便于测试诊断信息、BIT信息、维护信息的共享和重用，便于产品设计信息在测试阶段的重用。

　　第四阶段 规划：1998～2002.6；

　　与综合诊断支持系统、健康管理系统相结合形成产品长期维护支持体系结构。