大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
产品特点膜厚测量中必要的功能集中于头部。通过显微分光高精度测量绝i对反射率(多层膜厚、光学常数)。1点只需不到1秒的高速tact。实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近红外)。通过区域传感器控制的安全构造。搭载可私人定制测量顺序的强大功能。即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数。各种私人定制对应(固定平台,OPTM,有嵌入式测试头式样)。
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在膜厚测定中的能谱表示:由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示,操作简单,OPTM反射率测试,资料处理的速度快。
充实测量报告的作成机能:采用WINDOW软件,测定画的撷取,OPTM设备,非常简便,可充衬测量报告的制作机能。
测定物膜厚附著分布表示:以三次元图案来表示测定物膜厚附著状态的分布,作判定时一目了然。
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为什么膜厚仪有时测量不准确?
在系统矫正时没有选择合适的基体。基体***1***面为7mm,***1小厚度为0.2mm,低于此临界条件测量是不可靠的。
附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质,以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时,选择的基体的表面也必须是裸1露的、光滑的。
仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
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