大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
在膜厚测定中的能谱表示:由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示,OPTM反射率测试,操作简单,资料处理的速度快。
充实测量报告的作成机能:采用WINDOW软件,大塚OPTM,测定画的撷取,非常简便,OPTM厂家,可充衬测量报告的制作机能。
测定物膜厚附著分布表示:以三次元图案来表示测定物膜厚附著状态的分布,作判定时一目了然。
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膜厚测试仪的此类校准适用于N型测头,OPTM,并使用特殊的校准标准片。 ·必须使用一试片法。 ·使用标有“铜上镀铬”字样的特殊标准片。 说明:在温度变化极大的情况下,如冬季或盛夏在室外操作时,应在与待测箔厚度接近的标准片上进行校准。校准时的环境温度应与使用时的环境温度一致。
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产品特点膜厚测量中必要的功能集中于头部。通过显微分光高精度测量绝i对反射率(多层膜厚、光学常数)。1点只需不到1秒的高速tact。实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近红外)。通过区域传感器控制的安全构造。搭载可私人定制测量顺序的强大功能。即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数。各种私人定制对应(固定平台,有嵌入式测试头式样)。
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