OPTM反射率测试-OPTM-大塚电子公司(查看)
作者:大塚电子2020/1/15 9:29:13

大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!


为什么膜厚仪有时测量不准确?

在系统矫正时没有选择合适的基体。基体***1***面为7mm,***1小厚度为0.2mm,低于此临界条件测量是不可靠的。

附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质,以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时,OPTM厂家,选择的基体的表面也必须是裸1露的、光滑的。

仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。



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膜厚测试仪测量时间的选择  测量时间越长稳定度越好,OPTM反射率测试,一般来说,单镀层不小于15秒,双镀层和合金比例测量时间不少于30秒钟,OPTM,三镀层测量时间不少于45秒,镀液主离子浓度测量时间在30~60秒之间。


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膜厚仪测试时有关辐射安全注意事项

幅射安全方面膜厚仪由于使用X射线管而产生辐射。测量头的设计完全符合国际X射线安全要求:  ·测量头控制台上的一个钥匙开关通过打开或关闭X射线管上的高压决定X幅射的产生与否;  ·一个多级故障自动***互锁系统可控制X幅射的产生,从而有效保护操作者的安全;  ·如果测量门没有完全关闭,X幅射就不会进入测量室;  ·足够的遮罩用来减小外部的幅射量。



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