荧光材料样品所反射的激发光，在积分球内壁上反射，并再次照射到荧光材料样品上，发出荧光的现象叫做再激发。为了修正这个荧光发光的成份，如图所示，改变Xe激发光（投光用光纤）的角度，将激发光的照射点改为样品口的硫i酸钡（或Spectralon）一面来进行测试。这样可以将对积分球内壁上漫反射引起的再激发荧光成份进行测试，实行修正。

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应用范围■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有机EL)

■ 半导体、复合半导体

?矽半导体、半导体雷射、强诱电、介电常数材料

■ 资料储存

?DVD、磁头薄膜、磁性材料

■ 光学材料

?滤光片、抗反射膜

■ 平面显示器

?液晶显示器、薄膜电晶体、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

量测范围玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析