三维形貌测量系统

可用于物体表面三维形貌和变形测量。由于该系统既可配备10倍变焦远距离显微成像镜头，也可配备普通变焦镜头，使得该系统能同时满足细观及宏观的测量要求。不仅可用于微电子、生物、微机械等微细结构的形貌及变形测量，也可用于混凝土结构、岩土试样等大型构件表面形貌和变形测量。系统配有专用的相移条纹图像处理软件，使得系统测量精度明显提高，并且使用方便、操作简单。

光学影像测量仪检测是一种常见测量技术，通过提供了量化的图像测量方式，获得测量数据，从而对零部件公差尺寸进行把控，是机械、电子制造业，计量测试所广泛使用的一种多用途计量仪器。

影像测量仪的误差来源有哪些呢？ （1）光栅尺记数的偏差; （2）操作台挪动时存有的平行度、角摆产生的偏差; （3）操作台两精l确测量轴平整度带的偏差; （4）摄像镜头直线光轴与操作台不垂直带的偏差; （5）精l确测量工作温度转变产生的偏差; （6）灯源照明灯具标准的转变产生的自动对焦和指向偏差。

苏州盟讯电子有限公司座落于风景秀丽的历史文化名城———江苏省苏州市工业园区。是一家光学薄膜相关设备集研发、设计、加工、销售、服务为一体的制造型公司，专注于光学微结构热压设备，工艺及服务，公司拥有设计经验8年 /工艺经验5年 ，以其自主研发，技术创新，不断推新导光膜卷/片材热压设备

三维表面形貌测量仪的应用： 1、精密部件3D尺寸及段差测试； 2、精密点胶胶线截面、胶线宽度、胶线高度测试； 3、3D玻璃缺陷检测； 4、半导体表面缺陷测试； 5、多层薄膜厚度测试。

随着半导体技术的电子技术工艺的发展，电子产品都往小型化，轻薄化发展。iWatch的一经推出，穿戴电子产品成为了一个新的电子设备应用潮流。随着电子产品的小型化，器件体积越做越小，空间就紧凑起来，这对器件加工尺寸及工艺的容差要求就越来越高。

这款仪器采用非接触式线光谱共焦快速扫描技术，能够高l精度还原产品的3D结构，对肉眼不可见的结构缺陷都能准确检测。因为具有较快的扫描速度，微米级别的精度和超l强的稳定性，一经推出立马成为精密生产商的新宠。在精密铸件、精密点胶、3D玻璃，半导体缺陷检测和多层光学薄膜厚度检测，就是这款产品的主要应用领域。