2.5次元影像测量仪与二次元影像仪的区别有哪些呢？

2.5次元测量仪，是指在二次元的基础上，以光学影像测量可测高度及深度，或者在镜头上加个测针，用光学镜头测量平面尺寸、用测针进行接触式测量可测深度，达到3维测量的效果，但此3维测量仅是简易的3D测量，未能真正地实现3维全部空间尺寸的测量，因此被称为2.5次元。

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三维表面形貌测量仪可用于物体表面三维形貌和变形测量。由于该系统既可配备10倍变焦远距离显微成像镜头，也可配备普通变焦镜头，使得该系统能同时满足细观及宏观的测量要求。不仅可用于微电子、生物、微机械等微细结构的形貌及变形测量，也可用于混凝土结构、岩土试样等大型构件表面形貌和变形测量。系统配有专用的相移条纹图像处理软件，使得系统测量精度明显提高，并且使用方便、操作简单。

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三维形貌测量仪对于样品表面特性研究案例

材料科学的目标是研究材料表面结构对于其表面特性的影响。因此，高分辨率分析表面形貌对确定表面粗糙度、反光特性、摩擦学性能及表面质量等相关参数具有重要意义。

符合国际标准的NanoFocus测量系统适用于各种不同材料的测量需求，满足满足规格要求并使工艺流程优化，这意味着在缩短开发时间的同时降低成本。