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干涉测量法说明

通过使用两束光（通常将一束光分为两束光），可在其叠加时形成干涉图。由于可见光的波长非常短，雷尼绍测头，两束光的光路（传播距离）稍有不同，就能被检测出来（因为这些差异会在干涉图上产生明显的变化）。因此，光学干涉测量法上百年来一直是一项非常有价值的测量技术。随着激光的发明，干涉测量法的精度得以改进。

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为什么要校验三坐标的测针

校验三坐标测针主要有两个原因：为了得到测针的红宝石球的补偿直径和不同角度测针位置与一个角度测针位置之间的关系。三坐标测量机在进行测量任务时，是用三坐标测针的红宝石球接触被测零件的测量部位，此时三坐标测头（传感器）所发出触测信号，该信号进入光栅计数系统后，将此时的光栅计数锁存并发送到测量机控制柜中，工作中的测量机控制柜就会收到一个由三坐标X、Y、Z 坐标表示的位置点，这个位置点我们可以理解为是三坐标测针红宝石球中心的坐标，但它与我们真正需要的测针红宝石球心与工件接触点还相差着一个红宝石球的半径。为了准确计算出我们所要的接触点坐标，必须通过三坐标测头校验得到测针红宝石球的半/直径。

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测头传感器在触发信号到达测量控制柜计数器时，需要的时间是固定的。但是在这段时间内光栅尺读数的变化率，与三座标测量机的触测速度有一定关系，触测速度快时，测针的校验直径就小，反之，触测速度慢时，测针的校验直径就大。这就是我们平常为什么要测量速度和校准测针速度一致的原因了。

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