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在检测BGA器件缺陷过程中,电子测试仅能确认在BGA连接时,判断导电电流是通还是断?如果辅助于非物理焊接点测试,将有助于组装工艺过程的改善和SPC(统计工艺控制)。
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由于焊料或者前置焊球所引发的“阴影”效果限制了X射线设备的检测工作,使之仅能粗略地反映BGA的工艺过程缺陷,例如:桥接现象。同时也影响到检测边缘部份的工艺缺陷,像焊料不足,或者由于污染引起的断路现象。
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BGA的全称Ball Grid Array(焊球阵列封装),它是在封装体基板的底部制作阵列焊球作为电路的I/O端与印刷线路板(PCB)互接。采用该项技术封装的器件是一种表面贴装器件。
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