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失效分析技术 /电子元器件
电子信息技术是当今新技术革命的核心,电子元器件是发展电子信息技术的基础。了解造成元器件失效的因素,以提高可靠性,上海回收IC,是电子信息技术应用的必要保证。开展电子元器件失效分析,需要采用一些***的分析测试技术和仪器。
1 光学显微镜分析技术
2 红外分析技术
3 声学显微镜分析
4 液晶热点检测技术
5 光辐射显微分析技术
6 微分析技术
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印刷焊膏
因为表面组装板上已经装有其他元器件,因此必须采用BGA专用小模板,模板厚度与开口尺寸要根据球径和球距确定,印刷完毕后必须检查印刷质量,如不合格,必须将PCB清洗干净并凉干后重新印刷。对于球距为0.4mm以下的CSP,可以不印焊膏,因此不需要加工返修用的模板,直接在PCB的焊盘上涂刷膏状助焊剂。需要拆元件的PCB放到焊炉里,按下再流焊键,等机器按设定的程式走完,在温度***z高时按下进出键,回收IC厂家,用真空吸笔取下要拆下的元件,PCB板冷却即可。
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对以中等规模到大规模采用BGA器件进行电子组装的厂商,主要是采用电子测试的方式来筛选BGA器件的焊接缺陷。在BGA器件装配期间控制装配工艺过程质量和鉴别缺陷的其它办法,包括在焊剂漏印(Paste Screening)上取样测试和使用X射线进行装配后的***终检验,以及对电子测试的结果进行分析。﹨
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