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精细间距器件的局限性在于细引线易弯曲、质脆而易断,对于引线间的共平面度和贴装精度的要求很高。 BGA技术采用的是一种全新的设计思维方式,它采用将圆型或者柱状点隐藏在封装下面的结构,引线间距大、引线长度短。这样,BGA就消除了精细间距器件中由于引线问题而引起的共平面度和翘曲的问题。
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满足对BGA器件电子测试的评定要求是一项***挑战性的技术,因为在BGA器件下面选定溯试点是困难的。在检查和鉴别BGA器件的缺陷方面,电子测试通常是无能为力的,这在很大程度上增加了用于排除缺陷和返修时的费用支出。
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通过X射线分层法切片,哪里有回收芯片,在BGA焊接点处可以获取如下四个基本的物理超试参数:①焊接点中心的位置焊接点中心在不同图像切片中的相对位置,表明元器件在印刷电路扳焊盘上的***情况。②焊接点半径焊接点半径测量表明在特定层面上焊接点中焊料的相应数量,在焊盘层的半径测量表明在焊剂漏印(PasteScreening)工艺过程中以及因焊盘污染所产生的任何变化,在球层(ball level)的半径测量表明跨越元器件或者印刷电路板的焊接点共面性问题。
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