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CBGA 封装的缺点如下:1、由于陶瓷基板和 PCB 板的热膨胀系数(CTE)相差较大,因此热匹配性差,焊点疲劳是其主要的失效形式;2、与 PBGA 器件相比,封装成本高;3、在封装体边缘的焊球对准难度增加。]
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由于焊料或者前置焊球所引发的“阴影”效果限制了X射线设备的检测工作,使之仅能粗略地反映BGA的工艺过程缺陷,例如:桥接现象。同时也影响到检测边缘部份的工艺缺陷,像焊料不足,或者由于污染引起的断路现象。
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CBGA(陶瓷焊球阵列)
封装CBGA(Ceramic Ball Grid Array)在BGA 封装系列中的历史***长。它的基板是多层陶瓷,金属盖板用密封焊料焊接在基板上,用以保护芯片、引线及焊盘。焊球材料为高温共晶焊料10Sn90Pb,焊球和封装体的连接需使用低温共晶焊料63Sn37Pb。
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