一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,光谱分析仪,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
XTU-A、XTU-50A:五金产品、紧固件、汽车配件、卫浴等,测量面积大于?0.2mm的产品
?XTU-BL:主要针对线路板等大平面,但是需要测试?0.1mm以下,且求购仪器预算较低的客户。
?XTU-50B、XTU-4C:可测试小至?0.05mm测量面积,且搭载的精密移动平台和变焦镜头(XTU全系列都含有)能满足各种需求。
江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪
电镀液测量杯整套含两个测量杯,可用于多品牌X-RAY测厚仪上使用,高纯元素本底提高测量精度和检出限。电镀液测试样品杯,严格控制了容量和溢出物的处理,用来测试溶液中金属离子的浓度;使用方便简捷,无污染。
测试膜,又名X射线荧光光谱仪样品薄膜,迈拉膜,麦拉膜,莆田测厚仪,XRF测试薄膜,膜厚测试仪,XRF样品膜,样品薄膜,EDX薄膜,EDX样品薄膜,ROHS检测膜,光谱仪样品薄膜;是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在样本杯内的物质。专用样品薄膜是使用方便简捷,无污染的测试用样品薄膜,广泛应用于Elite、fischer、牛津、博曼、先锋、日立、天瑞等各种品牌的EDX/XRF光谱仪。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
一六仪器 X荧光光谱测厚仪
镀层分析X射线荧光光谱特点
1.镀层分析快速、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟,分析精度高。
2.可测试超薄的镀层。
3.可测试多镀层,分析精度远远高于其他测量方法。
4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定,选择合适的对比分析样品,就可以准确的分析出合金镀层的厚度。
5.对于样品可进行连续多点测量,适合分析镀层的厚度分布情况,光谱测厚仪,并可以对样品的复杂面进行测量。
6.对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别
7.不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。
8.可以对样品进行测试
9.属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样
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