江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X荧光涂镀层测厚仪测试原理
同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα 射线,同样还可以产生Kβ射线 ,L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现,镀层膜厚仪,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下: λ=K(Z-s)-2 这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪可调整测量位置,测厚仪,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定,利用座标补正、连结频道,镀层测厚仪,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
测定部显示尽像的表示:***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
江苏一六仪器 X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列
技术参数
X射线装置:W靶微聚焦加强型射线管
准直器φ 0.05 mm ;φ 0.1 mm;φ 0.2 mm;φ 0.5 mm; 准直器任意选择或者任意切换
***近测距光斑扩散度:9%
测量距离:具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察:1/2.5彩色CCD,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦
放大倍数:光学38-46X,数字放大40-200倍
随机标准片:十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件:联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱
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