电镀膜厚仪按需定制
作者:一六仪器2020/3/1 1:10:35






一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,***EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准***决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

XTU-A、XTU-50A:五金产品、紧固件、汽车配件、卫浴等,测量面积大于?0.2mm的产品

?XTU-BL:主要针对线路板等大平面,但是需要测试?0.1mm以下,且求购仪器预算较低的客户。

?XTU-50B、XTU-4C:可测试小至?0.05mm测量面积,且搭载的精密移动平台和变焦镜头(XTU全系列都含有)能满足各种需求。



江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。-样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、*工等制造领域。

***的技术,***的团队,严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。



江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 特点

快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上***的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。

无损:测试前后,样品无任何形式的变化。

直观:实时谱图,可直观显示元素含量。

测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

可靠性高:由于测试过程无人为干扰因素,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种***的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。


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