X-RAY测厚仪特点

1，价格高，镀层测厚仪，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试P（磷）~U（铀），并且支持Rohs及元素分析功能等。

2，无损检测，Windows操作系统，使用简便。操作快速，能适应多类镀层，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。

3，测量厚度范围较广，

0.002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。

4，测量精度高，1%左右，测厚仪，分辨率高，0.001um左右。

5，测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。

6，可编程XYZ测量台及大移动范围。

江苏一六仪器 XTU系列 XTU-BL X荧光光谱仪

仪器规格：

外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

仪器重量 ：55kg

供电电源 ：交流220±5V

功率 ：330W

环境温度：15℃-30℃

环境相对湿度：lt;70%

EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的， 根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。

常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，光谱测厚仪，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。

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江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

目前，金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析（GD-OES）和X射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层，逐层溶解并进行测定，方法准确但费时费力，尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂，价格又贵，属于典型***性样品检测，测厚仪厂家，测量手段手段繁琐，速度慢，电解液耗损大，目前一般很少应用。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层，再用发射光谱测定，这种方法可实现剖面或逐层分析，但测量重复性并不理想。

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