江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪

应用领域：

线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

手表、精密仪表制造行业

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeAIB

汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

X射线测厚仪的安全问题：

其实从科学的角度分析，20Kv的X射线能量本身就很低，不知道你见过牙片机吗？那个还60KV以上呢，从你给的这个数值来看应该是测量纸或者铝箔之类的低密度、很薄的物品的，这样看来，即便这中能量的X射线一直不停的对直你本人进行照射都不会有问题，何况还是折射和衍射，折射和衍射后的能量与原来的能量比是非常非常低的，200CI的Co-60源产生的射线，经过6次折射可以达到环境水平，可见能量损耗之强，衍射就更不用说了 ，这种能量的X射线根本就不会有衍射产生的，不用担心，所以，切莫恐慌。目前常见的测厚仪有γ射线、β射线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入口侧。

X射线荧光的基本原理

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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。

当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。江苏一六仪器有限公司光谱分析仪器研发、生产、销售，***解决各类涂镀层、膜层的检测难题。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。

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性能优势：

下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

精密微型滑轨：快速精准***样品。

EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

测厚仪和膜厚仪一样吗

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

膜厚仪：属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。

一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

不同种类的测厚仪的应用

1、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，一六仪器从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。

应用领域：

线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

手表、精密仪表制造行业

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

电镀液的金属阳离子检测

3、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.