微聚焦X射线荧光能谱仪用于的测定镀层样品厚度及成分
微聚焦X射线荧光能谱仪仪器简介：
   微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非***性的元素分析的方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到非常小的区域，以获得***的空间分辨率，进行快速分析。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析。
微聚焦X射线荧光能谱仪用于的测定镀层样品厚度及成分
  采用X射线荧光技术的M4可以分析薄镀层样品，如印刷电路板、金属或塑料件，包括单层镀层和多层镀层。XSpect软件采用无标样基本参数法，可以同时计算镀层厚度和镀层组成。使用标准样品进一步提高定量分析的准确性
RoHS检测
   测量一个PCB样品。u安苏的面分布图显示了下列元素的分布情况：Br(绿色）、Cu（红色）、Au（***）、Pb（白色）和Sn（粉红色）
图像的原始大小：250×75像素
测量时间：0.15s/像素
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http://www.boyuesh17.com/SonList-1455440.html
http://www.chem17.com/st4016/erlist_1455440.html