NDC同位素测量仪简介

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同位素厚度测量仪，由1或3Ci的241Am射源和电离室组成。

为轧制和处理线提供稳定和可信赖的厚度测量。

具有的独特功能为：

1、1或3Ci射线源通常用于50ms或20ms响应。

2、三重保护罩和可靠的快门适用于恶劣的环境。每个快门均设计有失败关闭功能和在全开或全关时的位置检测(可选)。

3、低噪音和低通行线敏感度测量。

4、仅有一个可移动部件的非常可靠的传感器。

涡流测厚仪简介

涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，NDC测厚仪代理，使其阻抗发生变化，NDC测厚仪，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

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NDC光学测厚仪的原理

NDC T100光学测厚仪是由基于多年经验的NDC集团***发展并应用在厚度、宽度和速度测量的技术。系统由可以完全避免测量元件振动的异常坚固的测量臂、长寿命半导体激光器和阵列摄像头组成。可以自动使用测量表面的反射变化。

产品厚度是通过计算测量框架的气隙和每一端到测量对象表面的和的差值取得的。如图所示，测量的精度取决于三角测量法的精度和c-型架的稳定性。

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