RoHS分析仪的分析原理

波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长:

nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)

式中 ，λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特点信息。

能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量:

Q=kE式中，E为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特点信息。

待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。

为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。

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X荧光光谱分析仪分类

北京京国艺科技发展有限公司***生产、销售RoHS分析仪，以下信息由北京京国艺科技发展有限公司为您提供。

X荧光光谱分析仪分类：

X荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。

以检测X荧光的波粒二象性中波长特征为原理的称为波长色散型，以检测能量特征为原理的称为能量色散型。

我公司生产的RoHS检测仪属于能量色散型X荧光光谱分析仪。相较波长色散型而言，它的缺点是数据精度比波长色散型低。但是操作简单，无需制样，采购与维护成本低。

RoHS元素分析仪的应用领域

1.满足欧盟RoHS指令，以及各国针对电子电机产品中有***物质含量的快速检测分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。

2．RoHS/WEEE针对目前IEC指令中之无卤素卤元素含量要求标准，利用HY1832JC可建立快速、非***的检测方法，满足厂商简易的需求。

3．电子产业1、应用於无卤素材料分析(Halogen Free)2、应用於无卤素材料分析(Halogen Free),加装配件可再做全氟辛烷硫磺酸(PFOA/S)等分析