ROHS分析仪简介

分析元素：标准数据包包含20种元素

标准元素：Pb, Cr, Hg, Br, Cd, Sb, Cl, P, Ti, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Bi, Sn, Ag.

数据显示：集中于ppm, 按百分比(%)显示，光谱和/或峰强度(计数率)或用户自定义单位，取决于所选的分析模式

检测下限：料和焊锡，Pb, Hg: 10ppm; Cr: 40ppm; Cd: 20ppm; Br: 5ppm; As: 9ppm

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RoHS检测仪的***和清洁　　

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1、表面与外壳的清洁。仪器可用微湿的抹布进行表面清洁，不可用碱性或酸性清洁剂，应使用中性清洁剂。　　

2、在清洁过程中，必须注意不要将***掉入测试窗口中。测试窗口应该保持清洁，同时不能使用硬物接触测试窗口内，防止损伤探测器窗口和光管窗口。(探测器窗口和光管窗口损坏将不予保修，并且更换价格昂贵。因此，在清洁和使用中一定要小心爱护)　　

3、仪器上禁止摆放茶杯、重物等与测试无关的物品，以免污染或损伤仪器。

RoHS分析仪原理

北京京国艺科技发展有限公司***生产、销售RoHS分析仪，我们为您分析该产品的以下信息。

RoHS检测的学名是X荧光光谱仪(XRF)。X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品，产生X荧光(二次X射线)，探测器对X荧光进行检测。

受激发的样品中的每一种元素会放she出二次X射线，并且不同的元素所放she出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放she出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器可用微湿的抹布进行表面清洁，不可用碱性或酸性清洁剂，应使用中性清洁剂。

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下:

λ=K(Z? s) ?2

式中K和S是常数。

而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为:

E=hν=h C/λ

式中，E为X射线光子的能量，单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。

因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。