RoHS分析仪的分析原理

波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长:

nλ=2dsinaθ (n=1，2，3…)

式中 ，λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特点信息。

能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量:

Q=kE式中，浙江rohs光谱分析仪，E为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特点信息。

待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。

为获得样品的定性和定量信息，rohs光谱分析仪哪家好，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。

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RoHS测试流程

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针对测试PB、HG、CD、CR6 、PBB、PBDE、DBP、DIBP、BBP、DEHP这十项的痕量分析

一、初步筛选

用X射线荧光光谱分析仪器可以对样品中PB、HG、CD、CR、BR这五种元素初步判定大致含量。其中PB、HG、CD可直接判断是否超标，如果处于临界值，无法判断的进入第二步测试。CR、BR是用来推断CR6 、PBB、PBDE是否超标的，通过换算得出CR6 、PBB、PBDE是否超标，例如：如果CR和BR都没有超过1000ppm，那么CR6 、PBB、PBDE肯定不会超过1000ppm。即使CR和BR超过1000ppm，CR6 、PBB、PBDE也不一定超过1000ppm，rohs光谱分析仪公司，可通过换算得出相对应的含量。如果不能确定的，使用第二步方法进行判定。

二、定量测试

参照IEC 62321/2nd CDV(111/95/CDV)

1.用ICP和AAS测试PB、CD、HG的含量。

2.用GC/MS测试PBB、PBDE、DBP、DIBP、BBP、DEHP的含量。

3.用紫外分光度计(点测试发/比色法)测试CR6 的含量。

X荧光光谱分析仪优点

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X荧光光谱分析仪优点：

a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，rohs光谱分析仪价格，但一般都很短，10~300秒就可以测完样品中的全部待测元素。

b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学价位的测定 。

c) 非***分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

e) 分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。

f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

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